一、简单介绍
目前IC使用率增长随之不佳率及反修率也越来越高,PTI818 BGA测试仪可以测试IC各脚之间开短路,对GND和VCC的clamp diode, 对地及相关脚的电阻及电容,BGA测试仪对IC上电,量测关键点的电压等手段检测出不佳IC,并能对不佳情况进行统计,以便做分析并查找对策。此方式对IC可测率达到98%以上。将是IC测试的实惠快速测试的变革。
二、产品特点
三,不佳IC的故障原因的查找及统计,以便改进设计。
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