微区取样仪

日本Micro Support Axis Pro 系列

简介：

        微区取样仪是微区分析强有力的辅助手段，在显微红外、显微拉曼、XRD、SEM和TEM检测中，经常会遇到微小待测物被覆盖、包埋、粘连等问题，有时候待测位置难以采集信号必须将待测物取出，还有时会因为待测物尺寸小于仪器检测极限带来许多难题，而微区取样仪可以帮助用户轻松解决。高精度的微区取样仪通过鼠标控制，全自动、多角度、高效率的将微小待测物取出或出来，便于用户进行下一步的仪器分析，该设备在微小样品分析、异物分析、多层复合材料分析、及FIB制样辅助领域均有广泛应用，尤其在显示材料行业的质量控制和产品研发中起到重要作用。
 

功能全面：
        日本MicroSupport微区取样仪可配套多种精密微工具对微米级的待测物进行相应处理，例如微探针可用于挑取表面上或微孔中的待测物、超声波铣削工具可去除待测物表面的覆盖层、微镊子可夹取胶黏剂中的待测物、收集器可富集小于1μm的待测物、微切刀和真空吸取工具等可切取复合材料其中一层的待测物，甚至是给待测样品做标记、将FIB制备的样品快速旋转放置等处理，都可以在相应的工具辅助下轻松完成，为后续检测分析创造了条件。
 

配置灵活：
        模块化设计，可根据实际应用灵活装配。

多功能、多选配：

        MicroSupport微区取样仪拥有丰富的取样和制样工具可供选择，各种材质、各种外形、各种尺寸、各种功能，一应俱全，可*无死角地解决微区分析中找样难、取样难、测样难等问题。