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产品详情
西安千月电子科技有限公司通过整合省内外高校、研究所及相关企业测试资源，建设了测试服务平台，具备材料组分、结构、表面形貌、电学特性及可靠性测试能力。公司具有多名材料及半导体背景的资深技术人员，可为您提供一对一的测试及分析服务，为您科研提供有力支持。同时更欢迎科研人才，有识之士加入千月团队！
测试服务:
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高分辨透射电子显微镜（TEM） |
JEM-3010 |
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扫描电镜 SEM |
zeiss SIGMA 500 |
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JEM-6700F |
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FEI Quanta-450-FEG+X-MAX50 |
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S3400N |
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原子力显微镜(AFM) |
Veece nanoscope Ⅲ A型 |
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超声波扫描（SAM） |
Sonoscan D24 |
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X射线衍射仪 XRD |
XRD-7000 |
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X'Pert Pro |
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日本理学Dmax-Rapid II |
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X射线光电子能谱仪(XPS） |
AXIS ULTRA |
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X射线检测（X-Ray） |
Phoenix MICROME|X 180T |
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激光拉曼光谱仪 |
Renishaw inVia Reflex |
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傅立叶变换红外光谱仪 |
JOEL FTIR8400 |
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稳态/瞬态荧光光谱仪 |
FLS980 |
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PL荧光光谱量测系统 |
S301-058/059 |
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PL映射系统PL MAPPING SYSTEM |
Platom RPM blue |
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静电衰减测试仪 |
JCI155v6 |
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介电阻抗谱测试 |
Novocontrol GmbH Concept 40 |
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步入式现场环境模拟系统(恒温恒湿环境) |
X-73 |
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高低温冲击试验箱 |
ETH80-40A |
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电阻率测试仪 |
NIPPON |
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膜厚测试仪 |
椭偏仪 |
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C-V测试 |
420S |
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B1500 |
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探针台 |
EB12/PSM1000 |
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EPS 150TRIAX |
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激光共聚焦 |
OLS4100 |
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综合物性测量 |
VersaLab |
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ECV |
EP-RE-0051 |
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颗粒仪(自动光学检查系统) |
nSpec |
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可见分光光度计 |
CARY 5000 |
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紫外可见分光光度计 |
Lambda950 |
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台阶仪 |
布鲁克 Dektak XT |
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A-Step膜厚段差测量仪 |
Dektak150 |
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EL量测试系统 |
ELV1-MP3 |
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金相显微镜 |
BX51M |
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HALL载流子浓度测试仪 |
HL5500PC |
