依科诗朗 Yxlon 设计、制造和销售高端 3D X-RAY射线和 CT 系统解决方案，为工业环境提供集成服务 - 从研发实验室到生产环境。在航空航天、汽车和电子行业、材料科学行业的制造商依靠 Comet Yxlon 来最大限度地提高其产品质量和生产效率。

FF35 CT灵活检测非常小到中等尺寸的零件

FF35 CT 亮点

• 单管或双管配置，在实验室显微 CT 应用中具有最高的多功能性
• 只需按一下按钮，即可在几秒钟内在 225 kV 微焦点和 190 kV 纳米焦点管之间切换
• 由于基于花岗岩的处理和空调，结果准确
• 通过软件平台 Geminy 实现各种 CT 轨迹和 FoV 扩展，应用灵活
• 带 MPE 的可选计量版本_标清= 5.9 微米 + L/75 [L 单位 mm]
• 提供符合半导体市场标准的 FF35 CT SEMI 版本
• 新增功能！最大样品重量现在高达 50 kg - 也可作为升级提供

FF35 CT 可以检查哪些物品？

• 电子元件，包括 SMD
• 涉及新材料或新制造方法的商品，例如增材制造组件、纤维增强塑料
• 电芯和模块
• 注塑成型塑料
• 微系统（MEMS、MOEMS）
• 医疗物品，例如插管
• 轻合金铸件
• 地质、古生物和生物样本

FF35 CT 适用于哪些应用？

• 质量保证、材料分析和研究
• 失效和结构分析
• 装配检查
• 小批量生产的检验
• 过程控制
• 数字化
• 分割

FF35 CT SEMI：专为半导体领域的应用而开发

Comet Yxlon FF35 CT SEMI X 射线系统是一款创新的多功能高分辨率 CT 系统，适用于研发和质量保证。它是专门为半导体相关行业的检查而开发的。FF35 CT SEMI满足高SEMI®标准，包括危险和安全标准SEMI® S2-0818和SEMI® S8-0218，并已获得相应认证。

使用 FF35 CT Metrology 测量最精细的内部结构

Comet Yxlon FF35 CT Metrology 将基于 CT 的尺寸控制精度（例如，最精细内部结构的测量）提升到一个新的水平。它在一次 CT 扫描中捕获几乎无限的测量点，与测量评估分离。无缝缺陷分析和设计件-实物比较可节省时间，减少产品抽样的校正循环和校正成本。FF35 CT 计量仪符合 VDI/VDE 2630 标准。

技术数据